本書理論和實踐相結合,首先概略介紹了I/O Library,包括I/O Library在晶元設計中的功能、設計流程等;接著介紹了I/O電路中的ESD現象、ESD的測試方法和多種ESD保護功能模塊的設計;然後著重講解閂鎖現象、GPIO的功能電路以及高速I/O電路的電路補償方法等;最後展望了I/O Library的未來發展。
作者:王國立,1999年獲得北京郵電大學信息工程專業碩士學位。其後先後在中國華為、德國柏林GMD FOKUS、美國微芯(Microchip)等公司從事通信電子和半導體晶元的工作。在半導體領域,作者親身從事過形形色色的半導體晶元工程項目的設計開發,使用過許多半導體製造工藝。