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納米數字集成電路的偏差效應分析與優化:從電路級到系統級

納米數字集成電路的偏差效應分析與優化:從電路級到系統級

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內容簡介

本書主要涉及在納米工藝下較為嚴重的晶體管老化效應——負偏置溫度不穩定性和製造過程中引起的參數偏差。介紹了參數偏差效應產生的物理機制及對電路服役期可靠性的影響,並提出了從電路級到系統級的相應的分析、預測和優化方法。



靳松:博士,副教授,碩士生導師。2007.9-2011.7在中科院計算所攻讀博士學位。畢業後進入華北電力大學電氣與電子工程學院電子與通信工程系任教。研究方向為可靠計算,大規模集成電路設計、測試及驗證。講授數字電子技術基礎和嵌入式系統設計課程。作為負責人主持國家自然科學基金一項、河北省自然科學基金兩項、橫向課題若干。發表SCI檢索論文十余篇,EI檢索期刊和會議論文三十余篇。

韓銀和:博士,研究員。2006年在中科院計算所獲得博士學位並進入中科院計算所電腦體系結構國家重點實驗室工作。主持多項國家「863」和自然科學基金項目,迄今在國際國內有影響的期刊和會議上發表論文70余篇。

 

詳細資料

  • ISBN:9787302522997
  • 規格:平裝 / 181頁 / 普通級 / 1-1
  • 出版地:中國

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